武汉嘉仪通科技有限公司

产品介绍

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  8吋快速退火炉遵循“专注、创新、成长、勤勉”的核心价值理念，做好每一款产品品

  快速退火炉RTP-3-08系列采用红外辐射加热技术，可实现大尺寸样品(8英寸)快速升温和降温，可用于快速热处理(RTP)、快速热退火(RTA)、快速热氧化(RTO)、快速热氮化(RTN)及金属合金化等半导体工艺。

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  薄膜热导率测试系统“专注、创新、成长、勤勉”认真做好每一款产品

  薄膜热导率测试系统TCT-3HT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率随温度变化的趋势，为广大科研工作者提供稳定可靠的实验依据。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、热阻材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等

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  霍尔效应测试系统智能化的用户界面操作简单，功能齐全的软件平台

  霍尔效应测试系统HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

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  相变温度分析仪“专注、创新、成长、勤勉”认真做好每一款产品

  PCA采用具有专利技术的光学系统检测原理，配有高性能的加热及控制系统和人性化的送样组件。PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。不仅能创新性解决二维薄膜材料的热学性能分析，同时还能使用与三维块体材料的热性能分析，是一款具有多功能的科技创新产品。 PCA是无损检测，不破坏样品，节约成本。